Exploração dos Vetores Críticos à Radiação na Síntese de Circuitos Combinacionais Aproximados
Abstract
A miniaturização do transistor, apesar de aumentar a densidade e o desempe nho dos circuitos, eleva sua vulnerabilidade a falhas, exigindo métodos eficazes para estimar e melhorar a confiabilidade. Diante da complexidade e da limitação dos métodos existentes de estimativa de confiabilidade, este trabalho propõe a utilização da síntese lógica aproximada como estratégia para incrementar a resiliência dos circuitos, permitindo uma certa margem de imprecisão que pode otimizar a área e a confiabilidade sem grandes prejuízos em termos de taxa de falhas. O objetivo é correlacionar diretamente a confiabilidade com a aplicação da síntese aproximada através dos vetores críticos. Esta abordagem é inovadora pois mescla características de aproximação em dois níveis, por meio da identificação de mintermos que otimizam a quantidade de cubos e literais e parâmetros de confiabilidade, as quais são obtidas em estruturas multinível. Os resultados demonstram que ao aproximar os vetores críticos, a versão de circuito aproximada fica menos complexa, refletindo na área total e na confiabilidade. Ao comparar os resultados com o Estado da Arte foi possível observar que a metodologia é viável para a criação de versões aproximadas.