dc.creator | Westphal, Talita Marth | |
dc.date.accessioned | 2022-11-07T14:37:32Z | |
dc.date.available | 2022-11-07 | |
dc.date.available | 2022-11-07T14:37:32Z | |
dc.date.issued | 2015-06-30 | |
dc.identifier.citation | WESTPHAL, Talita Marth. Filmes finos de V2O5 dopados com Nb2O5. 2015, 92 f. Dissertação (Mestrado em Ciência e Engenharia de Materiais) - Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais, Centro de Desenvolvimento Tecnológico, Universidade Federal de Pelotas, Pelotas, 2015. | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://guaiaca.ufpel.edu.br/handle/prefix/8763 | |
dc.description.abstract | This work pretend to study thin films of vanadium pentoxide (V2O5) doped with niobium
pentoxide (V2O5:Nb2O5) prepared by the sol-gel process. The sols were obtained by
using niobium ethoxide (Nb(OCH2CH3)5) and vanadium alkoxide (OV(OCH(CH3)2)3 –
vanadium oxytriisopropoxide) as precursors, isopropanol as solvent and glacial acetic
acid as catalyst. The thin films were deposited by dip coating technique on a substrate
(FTO). There will be a systematic study to obtain thin films with the desired
electrochemical properties. The thin films deposited was submitted to a heat treatment
of 350°C for 30 minutes in air atmosphere. In order thin films of V2O5 and V2O5:Nb2O5
were studied by different electrochemical techniques such as cyclic voltammetry (CV),
chronoamperometry (CA), chronocoulometry (CC), electrochemical impedance
spectroscopy (EIS) and UV-Vis spectroscopy. To study the morphology of the films
were realized measurements of scanning electron microscopy (SEM) and atomic force
microscopy (AFM). The objective of this work is to prepare and characterize thin films
with electrochromic properties and the possibility of using these films as counter
electrode in electrochromic device. | pt_BR |
dc.description.sponsorship | Sem bolsa | pt_BR |
dc.language | por | pt_BR |
dc.publisher | Universidade Federal de Pelotas | pt_BR |
dc.rights | OpenAccess | pt_BR |
dc.subject | Sol-gel | pt_BR |
dc.subject | Eletrocromismo | pt_BR |
dc.subject | Filmes finos | pt_BR |
dc.subject | V2O5:Nb2O5 | pt_BR |
dc.subject | Electrochromism | pt_BR |
dc.subject | Thin films | pt_BR |
dc.title | Filmes Finos de V2O5 dopados com Nb2O5. | pt_BR |
dc.title.alternative | Thin films of V2O5 doped with Nb2O5. | pt_BR |
dc.type | masterThesis | pt_BR |
dc.contributor.authorID | | pt_BR |
dc.contributor.authorLattes | http://lattes.cnpq.br/5420138477513640 | pt_BR |
dc.contributor.advisorID | | pt_BR |
dc.contributor.advisorLattes | http://lattes.cnpq.br/9101375491904726 | pt_BR |
dc.description.resumo | A presente dissertação propõe estudar filmes finos de pentóxido de vanádio (V2O5)
dopados com pentóxido de nióbio (V2O5:Nb2O5), preparados pelo processo sol-gel. Os
sóis foram obtidos utilizando etóxido de nióbio (Nb(OCH2CH3)5) e alcóxido de vanádio
(OV(OCH(CH3)2)3 – oxitriisopropóxido de vanádio) como precursores, isopropanol
como solvente e ácido acético glacial como catalisador. Os filmes finos foram
depositados pela técnica de dip coating sobre um substrato condutor eletrônico (FTO).
A partir disso, foi feito um estudo sistemático para a obtenção de filmes finos com as
propriedades eletroquímicas desejadas. Os filmes finos depositados foram
submetidos ao tratamento térmico de 350°C durante 30 minutos em atmosfera de ar.
Os filmes finos de V2O5 e V2O5:Nb2O5 foram estudados através de diferentes técnicas
eletroquímicas, tais como voltametria cíclica (VC), cronoamperometria (CA),
cronocoulometria (CC), espectroscopia de impedância eletroquímica (EIE) e
espectroscopia no UV-Vis. Para estudar a morfologia dos filmes, foram realizadas
medidas de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e microscopia de força
atômica (MFA). O objetivo da dissertação foi preparar e caracterizar filmes finos com
propriedades eletrocrômicas e a sua possibilidade de utilizar esses filmes como
contra-eletrodo num dispositivo eletrocrômico. | pt_BR |
dc.publisher.department | Centro de Desenvolvimento Tecnológico | pt_BR |
dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais | pt_BR |
dc.publisher.initials | UFPel | pt_BR |
dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA | pt_BR |
dc.publisher.country | Brasil | pt_BR |
dc.contributor.advisor1 | Avellaneda, César Antonio Oropesa | |